更新时间：2024-02-24 01:54
离子迁移是指电路板上的金属如铜、银、锡等在一定条件下发生离子化并在电场作用下通过绝缘层向另一极迁移而导致绝缘性能下降。
离子在单位强度(V/m)电场作用下的移动速度称之为离子迁移率，它是分辨被测离子直径大小的一个重要参数。空气离子直径越小，其迁移速度就越快。离子迁移率是表达被测离子大小的重要参数。离子运动速度与离子直径成反比，而离子迁移率与离子运动速度成正比，故离子迁移率与离子直径成负比。
由于早期的线路板线间距比较宽，发生这种故障的几率很小，并且只有在高温潮湿的条件下才有发生的可能，因此这一现象没有引起重视。
最早对这一现象进行研究的是美国贝尔实验室的 kohman 等人,他们发现在电话交换机的连接件中，有些镀在铜接线柱上的银在酚醛树脂基板内有检出，他们证实是银离子的迁移。这种现象有时会引起基板的绝缘性能下降。其发生的原因可能是在直流电压下受潮的镀层发生离子化而引起的。经研究发现，除了银外，铝、锡都有类似现象。但是很长一个时期几乎没有人关注这方面的研究。直到二十世纪七十年代，有关这方面的研究又开始引起人们的注意。这时以陶瓷为基板的高密度印刷线路板和覆铜线路板开始向小型化方向发展，使对基板材质的研究有所发展，使得又有人开始注意到离子迁移对基板绝缘性能的影响。
这些研究大多数还只是局限在西方，并且论著并不多见。到了二十世纪八十年代特别是九十年代以来，日本也开始关注这一课题，关于这方面的研究报告也多起来。由于没有统一的标准，这些研究的重现性欠佳，所得的结论也有所差异。
产生离子迁移的原因，是当绝缘体两端的金属之间有直流电场时，这两边的金属就成为两个电极，其中作为阳极的一方发生离子化并在电场作用下通过绝缘体向另一边的金属（阴极）迁移。从而使绝缘体处于离子导电状态。显然，这将使绝缘体的绝缘性能下降甚至成为导体而造成短路故障。
发生这一现象的条件是在潮湿环境下，绝缘体表面或内部有形成电解质物质的潜在因素。包括绝缘体本身的种类，构成，添加物，纤维性能，树脂性能等。
从基板的构成因素来看，分为三个方面：
一是树脂方面，树脂的组成，官能团，固化程度 ，离子浓度（杂质、水解性能等），吸湿性；
二是纤维方面：玻璃纤维的密度，有机纤维的吸潮性；
三是加工条件方面：通孔的条件（有无电镀液残留），层积条件（树脂间粘合性），加工工艺残留物（粗化、电镀等的残液）。
从线路板表面的诱因来看，因素就更多一些，除基板因素外，还有基板上所安装的元件和金属构件在电镀孔隙中留下的未能洗净的电解质，焊料，胶类，易发生电解的物质，灰尘等离子污染，结露等。
从更深入的研究来看，线路和结构的设计也与是否发生离子迁移故障有关连。因为线路板上的电场分布和易氧化金属材料所带的电的极性，是与线路和结构的设计有关的。其中线路间距和线路间所存在的直流电场与发生离子迁移有直接的关系，当两相邻近的线路间有直流电场存在，包括同相电流间的电位差的存在，在潮湿条件下，极易发生处于阳极状态的金属的离子化并向相对的阴极迁移。这同时与安装在线路中的元件和器件所用的金属材料的物理性能也有关系。比如金属的离子化能、离子的水解性以及离子的迁移度等，都对离子迁移的发生有很大影响。
为了研究产生离子迁移故障的机理，在实验中要模拟离子的迁移过程。通常采用的方法有两种，
一种是蒸气试验法。这是将被测试片放入盛有过饱和盐溶液的容器内，以高湿度和一定温度下使试片发生离子迁移现象，然后通过与试片联接的超绝缘电阻器对试片的绝缘性能的变化进行测量。
另一种方法是水溶液试验方法，所用试片是金属电极，比如银电极。将两个电极放在玻璃板上，再在上面压一层透明有机玻璃板，两个电极分别与电源的正副极相联，在电极间滴入去离子水，模拟结露状态再用相机拍下在电场作用下不同时间、不同条件下的电迁移情形。
用这种方法可以直观地观测到离子迁移的物理形态，可以测到不同时间下绝缘电阻的变化，直到两电极间最终形成短路。
离子迁移所造成的故障主要是使印刷PCB的电绝缘性能下降，严重的则是引起线路间的短路，以致于发生烧毁电器甚至于引起火灾。这种故障在线间距离趋小的情况下有增长的可能，因而引起关注。日本在 1995-1998 年 4 年期间家电所发生的设计和制造方面的故障有 284 起 , 其中因PCB发热起火的有8起 , 这8次起火事故中有4起是离子迁移引起的。另外，由于起火事故往往破坏了PCB的原始状态，所以有的即便是离子迁移故障也无法加以确定。
防止发生离子迁移故障的一个重要措施当然是要保持使用环境的干燥，但是PCB制作工艺也十分重要。都已经很少用到纸质的树脂板，并且非常重视防止化学污染。在所用的电子化学品中，最容易被忽视的是焊剂，所用的焊剂一般由天然或合成树脂、有机胺酸或有机磺酸及其盐、有机溶剂等组成。这些有机物特别是有机酸残留在PCB上，在潮湿条件下会成为电解质而引发电迁移。因此，选择和使用合适的焊剂是十分重要的。应选用疏水性强的有机酸和不含卤素离子的盐类做活性剂，并要避免其在PCB上的残留。尤其在采用无清洗工艺的时候，这是更为重要的提示。
离子迁移谱（ion mobiIity spectrometry，IMS），也称离子迁移率谱，是在 20 世纪 70 年代初出现的一种新的气相分离和检测技术。它以离子漂移时间的差别来进行离子的分离定性，借助类似于色谱保留时间的概念，起初被称为等离子体色谱。在早期的研究工作中，IMS装置结构简单和灵敏度高的特点引起了人们极大的兴趣。IMS技术发展初期主要是在爆炸物和毒剂的检测方面，并于 20世纪 80 年代初研制出军用现场检测仪器。但是因为其分辨率低的缺点和当时对大气压力下离子化的特性了解不多，民用方面的发展缓慢。进入 20世纪 90 年代，随着公开发表文献的增多和商品化的离子迁移谱仪的推出，国际上研究 IMS 技术的机构和研究人员逐渐增多。近年来反恐稽毒的需求极大地促进了现场高灵敏、高选择性检测设备的发展。IMS特别适合于一些挥发性有机化合物的痕量探测，如化学战剂、毒品、爆炸物和大气污染物等，已经广泛地应用在机场安检和战地勘查，并在环境监测、工业生产等方面有应用。